口腔正畸头影测量分析
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MydentalX头影测量软件

特点:由劢齐科技AI算法和软件工程团队研发,通过大数据算法与分析降低人工画线的测量误差。

功能:具备AI自动定点、自动分析、自动重叠、自定义分析法、自定义参考值、阶段间结构重叠和测量结果对比,以及报告本地导出等功能。

口腔正畸头影测量分析是通过分析侧位X线片(头影测量片)来评估患者颅面部结构的形态和位置关系,从而为正畸治疗提供科学依据。以下是详细的步骤和方法,帮助您进行有效的口腔正畸头影测量分析:

1. 影像采集

高质量影像:使用高分辨率的X光设备拍摄侧位头影测量片,确保图像清晰、无伪影。

标准化姿势:患者应保持自然、放松的状态,头部位置尽量标准化。可以使用头托、咬合板等辅助工具来固定患者的头部位置,减少因姿势变化带来的误差。

2. 标志点识别

颅部标志点:

S (蝶鞍点, Sella):蝶鞍影像的中心。

N (鼻根点, Nasion):鼻额缝的最前点。

Ba (颅底点, Basion):枕骨大孔前缘之中点。

Bo (Bolton 点):枕骨髁突后切迹的最凹点。

P (耳点, Porion):外耳道之最上点。

上颌标志点:

Or (眶点, Orbitale):眶下缘之最低点。

ANS (前鼻棘, Anterior Nasal Spine):前鼻棘之尖。

PNS (后鼻棘, Posterior Nasal Spine):硬腭后部骨棘之尖。

A (上齿槽座点, Subspinale):前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点。

UI (上中切牙, Upper Incisor):上中切牙切缘之最前点。

下颌标志点:

Co (髁顶点, Condylion):髁突的最上点。

Ar (关节点, Articulare):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点。

Go (下颌角点, Gonion):下颌角的后下点。

B (下齿槽座点, Supramental):下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点。

Id (下齿槽缘点, Infradentale):下齿槽突之最前上点。

Li (下切牙, Lower Incisor):下中切牙切缘之最前点。

Pog (软组织颏前点, Pogonion of Soft Tissue):软组织颏之最前点。

Me (软组织颏下点, Menton of Soft Tissue):软组织颏之最下点。

Gn (颏顶点, Gnathion):颏前点与颏下点之中点。

D (D 点):下颌体骨性联合部之中心点。

面部软组织标志点:

Prn (鼻尖点, Pronasale):鼻尖最突出点。

Sn (鼻小柱点, Subnasale):鼻小柱与上唇的交界点。

Ls (上唇点, Labrale Superius):上唇最前点。

Li (下唇点, Labrale Inferius):下唇最前点。

Ch (颏唇沟点, Cheilion):口角点,即上下唇红缘的交界点。

Pg (软组织颏前点, Pogonion of Soft Tissue):软组织颏的最前点。

3. 基准平面

SN 平面 (前颅底平面):由蝶鞍点(S)与鼻根点(N)连线组成。

FH 平面 (眼耳平面, Frankfort Horizontal Plane):由耳点(P)与眶点(Or)连线组成。

Bolton 平面:由 Bolton 点(Bo)与鼻根点(N)连线组成。

腭平面 (ANS-PNS 平面):由前鼻棘(ANS)与后鼻棘(PNS)连线组成。

全颅底平面 (Ba-N 平面):由颅底点(Ba)与鼻根点(N)连线组成。

合平面 (Occlusal Plane, OP):第一恒磨牙的咬合中点与上下中切牙间的中点连线。

下颌平面 (Mandibular Plane, MP):通过颏下点(Me)与下颌角下缘相切的线,或下颌下缘最低部的切线,或下颌角点(Go)与下颌颏顶点(Gn)间的连线。

下颌支平面 (Ramal Plane, RP):下颌升支及髁突后缘的切线。

面平面 (Facial Plane, N-Pog):由鼻根点(N)与软组织颏前点(Pog)连线组成。

Y 轴 (Y Axis):由蝶鞍中心(S)与软组织颏顶点(Gn)连线。

4. 常用角度

SNA 角:上颌对颅底位置关系,理想值约为 82°±1。

SNB 角:下颌对颅底位置关系,理想值约为 79°±1。

ANB 角:上下颌位置关系,理想值约为 3°±1。

NP-FH 角 (面角):反映面部高度比例。

NA-PA 角 (颌凸角):评估上颌前突程度。

UI-NA 角:上中切牙与鼻根点的关系。

LI-NB 角:下中切牙与鼻根点的关系。

UI-LI 角:上下中切牙之间的关系。

UI-SN 角:上中切牙相对于颅底的角度。

MP-SN 角:下颌平面相对于颅底的角度。

MP-FH 角 (下颌平面角):下颌平面相对于眼耳平面的角度。

LI-MP 角:下中切牙相对于下颌平面的角度。

Y 轴角:反映下颌的矢状向位置。

5. 分析方法

Steiner 分析法:主要用于评估上下颌骨的位置关系,特别适用于拔牙病例的诊断。

Tweed 分析法:重点评估下颌骨和牙齿的垂直关系,特别是下中切牙与下颌平面的关系。

Ricketts 分析法:结合多个角度和距离,全面评估颅面部结构,特别适用于美学评估。

Downs 分析法:评估上下颌骨的前后位置关系,常用于评估生长发育中的儿童。

Wits 分析法:评估上下颌骨的相对位置,特别适用于评估骨骼不协调的情况。

Burstone 分析法:结合多个角度和距离,评估上下颌骨的位置关系和牙齿排列情况。

6. 数据处理与解释

手动与自动结合:虽然现代软件提供了自动识别标志点的功能,但医生仍应仔细检查并手动调整关键点的位置,以确保其准确性。

多角度验证:对于一些难以确定的标志点,可以通过多角度拍摄(如正面和侧面)进行交叉验证,确保其位置准确。

参考标准图谱:使用权威的头影测量图谱作为参考,帮助医生更准确地识别和定位标志点。

个体化调整:每个患者的情况不同,医生应根据患者的年龄、性别、种族等因素进行个体化调整,避免套用固定的测量标准。

7. 临床应用

诊断与治疗规划:通过头影测量分析,医生可以全面评估患者的颅面部结构,制定个性化的治疗方案,选择合适的矫正器类型和治疗时机。

监测治疗效果:在治疗过程中,定期进行头影测量,动态监测颅面部结构的变化,及时调整治疗方案,确保达到最佳治疗效果。

预测生长趋势:对于生长发育中的儿童,头影测量可以帮助预测未来的生长模式,提前采取干预措施,避免错颌畸形的发展。

8. 多学科协作

综合评估:结合其他影像学检查(如CT、MRI)和临床检查结果,进行全面评估,确保诊断的全面性和准确性。

跨学科合作:与耳鼻喉科、神经外科等相关科室合作,共同讨论复杂病例,制定最佳治疗方案。

口腔正畸头影测量分析是正畸治疗中不可或缺的一部分,通过精确的标志点识别、基准平面和角度测量,医生可以全面评估患者的颅面部结构,制定个性化的治疗方案,并有效监测治疗进展。掌握这些技术和方法,能够显著提高诊断的准确性和治疗的成功率,为患者提供更好的医疗服务。


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